Near Field Scanning Optical Microscopy (NSOM/SNOM), česky optická skenovací mikroskopie v blízkém poli, je mikroskopická technika pro pozorovaní v oblasti nanočástic, která překonává rozlišovací limit pomocí vlastností tlumených vln. Základem této techniky je umístění detektoru velmi blízko k povrchu vzorku, typicky mezi 1 a 0.1-násobkem vlnové délky světla.^[1] Používá se v optické mikroskopii, pro její schopnost zvýšit kontrast nanočástic, může být snadno použita studiu různých vlastností látek, jako je index lomu, chemická struktura a mechanická deformace.^[2]

Popis zařízení

Zařízení se skládá například z optického vlákna leptaného do špičky, které je u této špičky pokoveno. Vláknem prochází modulované elektromagnetické záření (laser), které dopadá na vzorek ve vzdálenosti menší než je jeho vlnová délka, tzv. oblast blízkého pole. V tomto poli nedochází k výraznému odchylování fotonů ze směru kolmém na vzorek, a proto je interpretace výsledků snadnější. Světlo se vzorkem interaguje a to, které se odrazí nebo rozptýlí je detekováno fotonásobiči a převedeno na elektrický signál, a pak na monitor.^[3] SNOM je vlastně spojení optické mikroskopie s mikroskopií se skenující sondou (SPM). Tím dochází k lepšímu rozlišení než u klasické mikroskopie. V roce 2010 je tato technika předmětem zkoumání, zejména v oblasti výpočtu obrazu, kde se uplatňují složité zákonitosti kvantové mechaniky.^[2]

Použití

SNOM může nalézt své uplatnění v biologii, medicíně, v optické litografii nebo v materiálovém výzkumu.^[2]

Reference

Literatura

• JEMNÁ MECHANIKA A OPTIKA ROČNÍK 52 10/2007 Artefakty v rastrovací optické mikroskopii v blízkém poli (P. Klapetek, J. Buršík) strana 279
• Fabrication of Silicon Microprobes for Optical Near-Field Applications, Minh, P., Takahito, O., and Masayoshi, E., CRC Press, Boca Raton, Florida, 192 pages (2002).
• Near-Field Optics and Surface Plasmon Polaritons, Kawata, S., (ed.) Springer, Osaka, Japan, 210 pages (2001).
• Near-Field Nano-Optics: From Basic Principals to Nano-Fabrication and Nano-Photonics, Ohtsu, M. and Hori, H., Plenum Publishers, New York, 386 pages (1999).
• Near-Field Optics: Principles and Applications, Zhu, X. and Ohtsu, M., (eds.) World Scientific Publishing, Singapore, 273 pages (1999).
• Near-Field Nano/Atom Optics and Technology, Ohtsu, M., (ed.) Springer, Tokyo, Japan, 302 pages (1998).
• Near Field Optics and Nanoscopy, Fillard, J., World Scientific Publishing, Singapore, 438 pages (1996).

Externí odkazy

• (anglicky) Petr Klapetek, Jiří Buršík, Miroslav Valtr, Jan Martinek: Near-field scanning optical microscope probe analysis^{[nedostupný zdroj} Český metrologický institut, Ústav fyziky materiálů, Vysoké technické učení v Brně

Tento článek je příliš stručný nebo postrádá důležité informace. Pomozte Wikipedii tím, že jej vhodně rozšíříte. Nevkládejte však bez oprávnění cizí texty.